|
| Статус: | действующий (Введен впервые) |
|
| Обозначение: | ГОСТ Р 51635-2000* |
|
| Название: | Мониторы радиационные ядерных материалов. Общие технические условия |
|
| Дата актуализации текста: | 01.10.2008 |
|
| Дата добавления в систему: | 01.02.2009 |
|
| Дата введения в действие: | 01.01.2001 |
|
| Разработан в: | РФЯЦ-ВНИИЭФ |
|
| Утверждён в: | Госстандарт России (03.08.2000) |
|
| Опубликован в: | ИПК Издательство стандартов № 2000 |
|
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на радиационные мониторы, предназначенные для обнаружения ядерных материалов по их гамма- и (или) нейтронному излучению. Радиационные мониторы ядерных материалов не относятся к средствам измерений по ГОСТ 27451-87 и аппаратуре контроля радиационной обстановки по ГОСТ 29074-91.
Настоящий стандарт устанавливает общие требования к радиационным мониторам, подразделяемым на категории в зависимости от порога обнаружения, способа применения и вида контролируемого ионизирующего излучения.
Настоящий стандарт применяют при сертификации радиационных мониторов ядерных материалов. |
|
| Оглавление: | 1 Область применения
2 Нормативные ссылки
3 Определения и сокращения
4 Классификация
5 Общие технические требования
5.1 Характеристики
5.2 Требования к материалам, покрытиям и покупным изделиям
5.3 Комплектность
5.4 Маркировка
5.5 Упаковка
6 Требования безопасности и охраны окружающей среды
7 Правила приемки
8 Методы контроля
8.1 Общие требования к проведению испытаний
8.2 Контроль частоты ложных срабатываний
8.3 Контроль порога обнаружения
8.4 Контроль времени установления рабочего режима (5.1.1.6)
8.5 Контроль времени непрерывной работы (5.1.1.7)
8.6 Контроль работоспособности монитора при максимально допустимом фоне гамма-излучения (5.1.1.8)
8.7 Испытание на воздействие повышенной (пониженной) температуры, соответствующей рабочим условиям (5.1.3.1)
8.8 Испытание на воздействие повышенной влажности (5.1.3.1)
8.9 Испытание на воздействие быстрого изменения температуры среды (5.1.3.2)
8.10 Испытание на воздействие атмосферного пониженного давления (5.1.3.3)
8.11 Испытания на воздействие вибрационных и ударных нагрузок, соответствующих рабочим условиям (5.1.3.4 - 5.1.3.7)
8.12 Испытание на прочность к воздействию повышенной (пониженной) температуры, соответствующей условиям транспортирования (5.1.3.8, 5.1.3.9)
8.13 Испытание на прочность к воздействию повышенной относительной влажности окружающего воздуха, соответствующей условиям транспортирования (5.1.3.8)
8.14 Испытание на прочность к воздействию синусоидальной вибрации, соответствующей условиям транспортирования (5.1.3.10, 5.1.3.12)
8.15 Испытание мониторов в транспортной таре на прочность к воздействию ударов при свободном падении (5.1.3.11)
8.16 Испытание на стойкость к воздействию магнитных полей сетевой частоты (5.1.3.14, 5.1.3.15)
8.17 Испытание на стойкость к воздействию электромагнитного излучения, создаваемого системами сотовой радиосвязи (5.1.3.16)
8.18 Контроль потребляемой мощности (тока) (5.1.4.10)
8.19 Контроль массы (5.1.4.11, 5.1.4.12)
8.20 Испытание на воздействие отклонения напряжения питания (5.1.5.1)
8.21 Контроль электрической прочности и сопротивления изоляции (5.1.5.2)
8.22 Контроль комплектности (5.3)
8.23 Контроль маркировки (5.4)
8.24 Контроль конструкции мониторов на соответствие требованиям безопасности (раздел 6)
9 Транспортирование и хранение
10 Указания по эксплуатации
ПРИЛОЖЕНИЕ Б (справочное) Альтернативные источники гамма- и нейтронного излучения
ПРИЛОЖЕНИЕ В (справочное) Методика определения минимальной активности гамма- и нейтронных источников из РВ, обнаруживаемой монитором
ПРИЛОЖЕНИЕ Г (справочное) Библиография |
|
| Изменения и поправки: | №1 от 01.10.2007, опубликовано в издании «ИУС 8-2007» |
|