Утвержден и введен в действие

Приказом Ростехрегулирования

от 15 декабря 2009 г. N 1100-ст

НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

КОНТРОЛЬ НЕРАЗРУШАЮЩИЙ

МЕТОДЫ ОПТИЧЕСКИЕ

ТЕРМИНЫ И ОПРЕДЕЛЕНИЯ

Non-destructive testing. Optical methods.

Terms and definitions

ГОСТ Р 53696-2009

Группа Т00

ОКС 19.100

Дата введения

1 января 2011 года

Предисловие

Цели и принципы стандартизации в Российской Федерации установлены Федеральным законом от 27 декабря 2002 г. N 184-ФЗ "О техническом регулировании", а правила применения национальных стандартов Российской Федерации - ГОСТ Р 1.0-2004 "Стандартизация в Российской Федерации. Основные положения".

Сведения о стандарте

1. Разработан Федеральным государственным унитарным предприятием "Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений" (ФГУП "ВНИИОФИ").

2. Внесен Управлением по метрологии Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии.

3. Утвержден и введен в действие Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 15 декабря 2009 г. N 1100-ст.

4. Введен впервые.

Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодно издаваемом информационном указателе "Национальные стандарты", а текст изменений и поправок - в ежемесячно издаваемых информационных указателях "Национальные стандарты". В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ежемесячно издаваемом информационном указателе "Национальные стандарты". Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет.

Введение

Установленные в стандарте термины, отражающие понятия в области оптического неразрушающего контроля, расположены в систематизированном порядке, отражающем систему понятий данной области знания.

Для каждого понятия установлен один стандартизованный термин. Некоторые термины сопровождены краткими формами, которые следует применять в случаях, исключающих возможность их различного толкования.

Установленные определения можно при необходимости изменять по форме изложения, не допуская нарушения границ понятий.

В случаях, когда необходимые и достаточные признаки понятия содержатся в буквальном значении термина, определение не приведено, вместо него поставлен прочерк.

Стандартизованные термины набраны полужирным шрифтом, их краткая форма - светлым.

В стандарт включены алфавитный указатель содержащихся в нем стандартизованных терминов на русском языке, справочное Приложение А, в котором приведены термины общих физических понятий и технические термины, применяемые при оптическом неразрушающем контроле, и справочное Приложение Б, в котором приведены термины приборов, применяемых при оптическом неразрушающем контроле.

1. Область применения

Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины и определения основных понятий в области оптического неразрушающего контроля качества материалов, полуфабрикатов и изделий (далее - объекты контроля).

Термины, установленные стандартом, предназначены для применения в документации всех видов, научно-технической, учебной и справочной литературе.

2. Термины и определения

2.1. Основные понятия

2.1.1. &Оптический неразрушающий контроль&; оптический контроль: неразрушающий контроль, основанный на анализе взаимодействия оптического излучения с объектом контроля.

2.1.2. &Контраст дефекта&: отношение разности энергетических яркостей дефекта и окружающего его фона к одной из них либо их сумме.

2.1.3. &Видимость дефекта&: отношение фактического контраста дефекта к его пороговому значению в заданных условиях.

2.2. Методы оптического неразрушающего контроля

2.2.1. &Метод прошедшего оптического излучения&; метод прошедшего излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, прошедшего сквозь объект.

2.2.2. &Метод отраженного оптического излучения&: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, отраженного от объекта контроля.

2.2.3. &Метод рассеянного оптического излучения&; метод рассеянного излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, рассеянного от объекта контроля.

2.2.4. &Метод собственного оптического излучения&; метод собственного излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров собственного излучения объекта контроля.

2.2.5. &Метод индуцированного оптического излучения&; метод индуцированного излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, генерируемого объектом контроля при постороннем воздействии.

2.2.6. &Спектральный метод оптического излучения&; спектральный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе спектра оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.

2.2.7. &Когерентный метод оптического излучения&; когерентный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на измерении степени когерентности оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.

2.2.8. &Амплитудный метод оптического излучения&; амплитудный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации интенсивности оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.

2.2.9. &Временной метод оптического излучения&; временной метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации времени прохождения оптического излучения через объект контроля.

2.2.10. &Геометрический метод оптического излучения&; геометрический метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации направления оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.

2.2.11. &Поляризационный метод оптического излучения&; поляризационный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации степени поляризации оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.

2.2.12. &Фазовый метод оптического излучения&; фазовый метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации фазы оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.

2.2.13. &Интерференционный метод оптического излучения&; интерференционный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе интерференционной картины, получаемой при взаимодействии когерентных волн, опорной и модулированной объектом контроля.

2.2.14. &Дифракционный метод оптического излучения&; дифракционный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе дифракционной картины, получаемой при взаимодействии когерентного оптического излучения с объектом контроля.

2.2.15. &Рефракционный метод оптического излучения&; рефракционный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров преломления оптического излучения объектом контроля.

2.2.16. &Абсорбционный метод оптического излучения&; абсорбционный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров поглощения оптического излучения объектом контроля.

2.2.17. &Визуально-оптический метод оптического излучения&; визуально-оптический метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на наблюдении объекта контроля или его изображения с помощью оптических или оптико-электронных приборов.

2.2.18. &Фотохимический метод оптического излучения&; фотохимический метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров фотохимических процессов, возникающих при взаимодействии оптического излучения с объектом контроля.

2.2.19. &Оптико-акустический метод оптического излучения&; оптико-акустический метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров оптико-акустического эффекта, возникающего при взаимодействии оптического излучения с объектом контроля.

2.2.20. &Фотолюминесцентный метод оптического излучения&; фотолюминесцентный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров люминесценции, возникающей при взаимодействии оптического излучения с объектом контроля.

2.2.21. &Электрооптический метод оптического излучения&; электрооптический метод: поляризационный метод оптического неразрушающего контроля, основанный на дополнительном воздействии на объект контроля внешнего электрического поля.

2.2.22. &Магнитооптический метод оптического излучения&; магнитооптический метод: поляризационный метод оптического неразрушающего контроля, основанный на дополнительном воздействии на объект контроля магнитного поля.

2.2.23. &Метод согласованной фильтрации оптического излучения&; метод согласованной фильтрации: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе изображения объекта контроля с помощью оптического согласованного фильтра.

2.2.24. &Метод разностного оптического изображения&; метод разностного изображения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации различий в изображениях объекта контроля и контрольного образца.

2.2.25. &Метод фотоэлектрического оптического излучения&; метод фотоэлектрического излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров фотоэлектрического эффекта, возникающего при облучении объекта контроля оптическим излучением.

2.2.26. &Метод спекл-интерферометрии оптического излучения&; метод спекл-интерферометрии: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на использовании пространственной корреляции интенсивности диффузно-когерентного оптического излучения для получения интерференционных топограмм объекта контроля.

2.2.27. &Метод спекл-структур оптического излучения&; метод спекл-структур: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе спекл-структур, образующихся при отражении когерентного оптического излучения от шероховатости поверхности объекта контроля.

2.2.28. &Метод муаровых полос&: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе топограмм объекта контроля, получаемых с помощью оптически сопряженных растров.

2.2.29. &Фотоимпульсный метод контроля геометрических размеров изделия&; фотоимпульсный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на измерении длительности импульсов оптического излучения, пропорциональных геометрическим размерам объекта контроля и получаемых с помощью сканирования его изображения.

2.2.30. &Фотокомпенсационный метод контроля геометрических размеров изделия&; фотокомпенсационный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на измерении изменений интенсивности оптического излучения, вызванных отклонением геометрических размеров объекта контроля от контрольного образца.

2.2.31. &Фотоследящий метод контроля геометрических размеров изделия&; фотоследящий метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации перемещений фотоследящего устройства, пропорциональных изменению геометрических размеров объекта контроля.

2.2.32. &Голографический метод оптического неразрушающего контроля&; голографический метод: -

2.3. Средства оптического неразрушающего контроля

2.3.1. &Прибор неразрушающего контроля оптический&: система, состоящая из осветительных, оптических и регистрирующих устройств, а также средств калибровки и настройки, предназначенная для оптического неразрушающего контроля.

Примечание. При наличии у прибора оптического неразрушающего контроля нормируемых метрологических характеристик он может использоваться в качестве измерительного прибора.

2.3.2. &Источник излучения прибора оптического неразрушающего контроля&; источник излучения: часть прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная для облучения или освещения объекта контроля.

2.3.3. &Оптическая система&: часть прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная для формирования пучков оптического излучения, несущих информацию об объекте контроля.

2.3.4. &Приемное устройство&: часть прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная для регистрации первичного информативного параметра оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.

Примечание. В зависимости от вида регистрации различают фотоэлектрическое, фотографическое и другие приемные устройства.

2.3.5. &Оптический дефектоскоп&: прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для обнаружения несплошностей и неоднородностей материалов и изделий.

2.3.6. &Лазерный эллипсометр&: прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для измерения толщины и (или) показателя преломления прозрачных пленок поляризационным методом.

2.3.7. &Оптический структуроскоп&: прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для анализа структуры и (или) физико-химических свойств материалов и изделий.

2.3.8. &Оптический толщиномер&: прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для измерения толщины объектов контроля и (или) глубины залегания дефектов.

2.4. Освещение объекта контроля

2.4.1. &Световое сечение&: освещение объекта контроля плоским пучком света для получения изображения его рельефа.

2.4.2. &Темное поле&: освещение объекта контроля, при котором яркость его дефектов больше яркости поверхности, на которой они расположены.

2.4.3. &Светлое поле&: освещение объекта контроля, при котором яркость его дефектов меньше яркости поверхности, на которой они расположены.

2.4.4. &Стробоскопическое облучение&: облучение объекта контроля модулизированным оптическим излучением, частота и фаза которого синхронизированы с движением объекта контроля.

2.4.5. &Когерентное облучение&: облучение объекта контроля когерентным излучением.

2.4.6. &Монохроматическое облучение&: -

2.4.7. &Полихроматическое облучение&: облучение объекта контроля полихроматическим оптическим излучением.

2.4.8. &Сканирующее облучение&: облучение объекта контроля оптическим излучением с применением сканирования.

2.4.9. &Телецентрическое облучение&: облучение объекта контроля параллельным пучком оптического излучения.

2.4.10. &Стигматическое облучение&: облучение объекта контроля точечным источником оптического излучения.

Алфавитный указатель терминов

&Видимость дефекта&                                                &2.1.3&

&Дефектоскоп оптический&                                           &2.3.5&

Источник излучения                                                  2.3.2

&Источник излучения прибора оптического неразрушающего контроля&   &2.3.2&

&Контраст дефекта&                                                 &2.1.2&

&Контроль неразрушающий оптический&                                &2.1.1&

Контроль оптический                                                 2.1.1

Метод абсорбционный                                                 2.2.16

Метод амплитудный                                                   2.2.8

Метод визуально-оптический                                          2.2.17

Метод временной                                                     2.2.9

Метод геометрический                                                2.2.10

Метод голографический                                               2.2.32

Метод дифракционный                                                 2.2.14

Метод индуцированного излучения                                     2.2.5

&Метод индуцированного оптического излучения&                      &2.2.5&

Метод интерференционный                                             2.2.13

Метод когерентный                                                   2.2.7

&Метод контроля геометрических размеров изделия фотоимпульсный&    &2.2.29&

&Метод контроля геометрических размеров изделия                    &2.2.30&

фотокомпенсационный&

&Метод контроля геометрических размеров изделия фотоследящий&      &2.2.31&

Метод магнитооптический                                             2.2.22

&Метод муаровых полос&                                             &2.2.28&

Метод оптико-акустический                                           2.2.19

&Метод оптического излучения абсорбционный&                        &2.2.16&

&Метод оптического излучения амплитудный&                          &2.2.8&

&Метод оптического излучения визуально-оптический&                 &2.2.17&

&Метод оптического излучения временной&                            &2.2.9&

&Метод оптического излучения геометрический&                       &2.2.10&

&Метод оптического излучения дифракционный&                        &2.2.14&

&Метод оптического излучения интерференционный&                    &2.2.13&

&Метод оптического излучения когерентный&                          &2.2.7&

&Метод оптического излучения магнитооптический&                    &2.2.22&

&Метод оптического излучения оптико-акустический&                  &2.2.19&

&Метод оптического излучения поляризационный&                      &2.2.11&

&Метод оптического излучения рефракционный&                        &2.2.15&

&Метод оптического излучения спектральный&                         &2.2.6&

&Метод оптического излучения фазовый&                              &2.2.12&

&Метод оптического излучения фотолюминесцентный&                   &2.2.20&

&Метод оптического излучения фотохимический&                       &2.2.18&

&Метод оптического излучения электрооптический&                    &2.2.21&

&Метод оптического неразрушающего контроля голографический&        &2.2.32&

&Метод отраженного оптического излучения&                          &2.2.2&

Метод поляризационный                                               2.2.11

Метод прошедшего излучения                                          2.2.1

&Метод прошедшего оптического излучения&                           &2.2.1&

Метод разностного изображения                                       2.2.24

&Метод разностного оптического изображения&                        &2.2.24&

Метод рассеянного излучения                                         2.2.3

&Метод рассеянного оптического излучения&                          &2.2.3&

Метод рефракционный                                                 2.2.15

Метод собственного излучения                                        2.2.4

&Метод собственного оптического излучения&                         &2.2.4&

Метод согласованной фильтрации                                      2.2.23

&Метод согласованной фильтрации оптического излучения&             &2.2.23&

Метод спекл-интерферометрии                                         2.2.26

&Метод спекл-интерферометрии оптического излучения&                &2.2.26&

Метод спекл-структур                                                2.2.27

&Метод спекл-структур оптического излучения&                       &2.2.27&

Метод спектральный                                                  2.2.6

Метод фазовый                                                       2.2.12

Метод фотоимпульсный                                                2.2.29

Метод фотокомпенсационный                                           2.2.30

Метод фотолюминесцентный                                            2.2.20

Метод фотоследящий                                                  2.2.31

Метод фотохимический                                                2.2.18

Метод фотоэлектрического излучения                                  2.2.25

&Метод фотоэлектрического оптического излучения&                   &2.2.25&

Метод электрооптический                                             2.2.21

&Облучение когерентное&                                            &2.4.5&

&Облучение монохроматическое&                                      &2.4.6&

&Облучение полихроматическое&                                      &2.4.7&

&Облучение сканирующее&                                            &2.4.8&

&Облучение стигматическое&                                         &2.4.10&

&Облучение стробоскопическое&                                      &2.4.4&

&Облучение телецентрическое&                                       &2.4.9&

&Поле светлое&                                                     &2.4.3&

&Поле темное&                                                      &2.4.2&

&Прибор неразрушающего контроля оптический&                        &2.3.1&

&Сечение световое&                                                 &2.4.1&

&Система оптическая&                                               &2.3.3&

&Структуроскоп оптический&                                         &2.3.7&

&Толщиномер оптический&                                            &2.3.8&

&Устройство приемное&                                              &2.3.4&

&Эллипсометр лазерный&                                             &2.3.6&

Приложение А

(справочное)

ТЕРМИНЫ ОБЩИХ ФИЗИЧЕСКИХ ПОНЯТИЙ И ТЕХНИЧЕСКИЕ ТЕРМИНЫ,

ПРИМЕНЯЕМЫЕ ПРИ ОПТИЧЕСКОМ НЕРАЗРУШАЮЩЕМ КОНТРОЛЕ

А.1. &Спекл-структура&: случайное распределение интенсивности, характерное для диффузно-когерентного излучения.

А.2. &Сканирование&: анализ исследуемого пространства путем последовательного его просмотра при передвижении мгновенного поля зрения по полю обзора.

Приложение Б

(справочное)

ТЕРМИНЫ ПРИБОРОВ, ПРИМЕНЯЕМЫХ ПРИ ОПТИЧЕСКОМ

НЕРАЗРУШАЮЩЕМ КОНТРОЛЕ

Б.1. &Эндоскоп&: оптический прибор, имеющий осветительную систему и предназначенный для осмотра внутренних поверхностей объекта контроля.

Б.2. &Оптический компаратор&: оптический прибор, предназначенный для одновременного наблюдения объекта контроля и контрольного образца.

Б.3. &Субтрактивный видеоанализатор&: оптический прибор для формирования разностного изображения объекта контроля и контрольного образца.

Б.4. &Оптический дисдрометр&: оптический прибор для анализа объемного распределения микрочастиц в контролируемой среде.