Утвержден и введен в действие Постановлением Госстандарта СССР от 20 декабря 1988 г. N 4327 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР ИЗМЕРЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ШЕРОХОВАТОСТИ ТЕРМИНЫ И ОПРЕДЕЛЕНИЯ Measurement of
surface roughness parameters. Terms and
definitions ГОСТ 27964-88 (СТ СЭВ 6134-87, ИСО
4287/2-84) Группа Г00 ОКСТУ 0090 Дата введения 1 января 1990 года ИНФОРМАЦИОННЫЕ
ДАННЫЕ 1. Разработан и внесен Государственным
комитетом СССР по стандартам. Исполнители: В.В. Сажин, В.С. Лукьянов,
канд. техн. наук (руководитель темы); Г.Н. Самбурская, канд. техн. наук; Н.А.
Табачникова, канд. техн. наук. 2. Утвержден и введен в действие Постановлением
Государственного комитета СССР по стандартам от 20.12.1988 N 4327. 3. Срок первой проверки - 1997 г. Периодичность проверки 10 лет. 4. Стандарт полностью соответствует СТ
СЭВ 6134-87, ИСО 4287/2-84, ИСО 1879-81 в части "Средства измерений",
ИСО 1880-79, ИСО 3274-75 в части терминов и определений. 5. Введен впервые. Настоящий стандарт устанавливает термины
и определения понятий, относящихся к измерению параметров и характеристик
шероховатости поверхности. Термины, установленные настоящим
стандартом, обязательны для применения во всех видах документации и литературы,
входящих в сферу действия стандартизации или использующих результаты этой
деятельности. 1. Стандартизованные термины с
определениями приведены в табл. 1. Таблица 1 ────────────────────────────────┬────────────────────────────────────────── Термин │ Определение ────────────────────────────────┴────────────────────────────────────────── ПРЕОБРАЗОВАНИЕ ПРОФИЛЯ 1. Преобразование профиля Действие или операция, преднамеренно или E. Profile transformation непреднамеренно изменяющие информацию о F. Transformation du profil профиле на любой стадии измерения. Примечание. Например, при огибании профиля щупом, фильтровании, записи и т.д. 2. Преобразованный профиль Профиль, получаемый в результате его E. Transformed profile преобразования F. Profil 3. Преднамеренное Преобразование профиля, проводимое для преобразование профиля измерения в соответствии с установленными E. Intentional profile требованиями. transformation Примечание. Например, подавление F. Transformation volontaire низкочастотных гармоник в спектре профиля du profil путем фильтрования для выделения коротковолновой части профиля, которая при измерении рассматривается как шероховатость 4. Непреднамеренное Преобразование профиля, возникающее из-за преобразование профиля несовершенства измерительной аппаратуры E. Unintentional profile или отдельных ее частей и обычно transformation проявляющееся в виде искажений информации F. Transformation involontaire о профиле. du profil Примечание. Например, искажение информации о профиле при огибании его щупом с конечным радиусом вершины 5. Ощупанный профиль Преобразованный профиль, представляющий E. Traced profile собой геометрическое место положений F. Profil центра вершины щупа при огибании им реального профиля. Примечания. 1. Для контактного щупа за центр его вершины принимают любую точку рабочей вершины. 2. Для бесконтактного оптического щупа за центр его вершины принимается центр сферы, у которой диаметр равен диаметру сфокусированного пятна на поверхности 6. Модифицированный профиль Преднамеренно преобразованный профиль, E. Modified profile получаемый в результате воздействия F. Profil фильтрующей системы, применяемой для выделения той части спектра реального профиля, которая должна быть учтена при измерении параметров шероховатости поверхности 7. Измеренный профиль Профиль, полученный в результате E. Measured profile измерения F. Profil 8. Шаг дискретизации профиля Расстояние между соседними дискретными по длине ординатами профиля при измерении E. Profile sampling interval параметров поверхности цифровыми методами F. Pas de (см. черт. 1) du profil
Черт. 1 9. Шаг квантования профиля Расстояние между соседними отсчетами при по уровню измерении значения каждой ординаты профиля Е. Profile quantization step цифровыми методами (черт. 1). F. Pas de quantification Примечание. Значение ординаты профиля du profil округляется при дискретном измерении целого числа n шагов квантования , , где - значение ординаты профиля, d полученное при дискретном измерении; - шаг квантования профиля по уровню; ent - функция (оператор) выделения целой части числа; y - истинное значение ординаты профиля; n - целое число шагов квантования в данной ординате профиля 10. Идеальный оператор Алгоритм или процедура, которые E. Ideal operator предполагают исходное, теоретически точное F. ideal определение параметров или характеристик поверхности (см. черт. 2)
Черт. 2 11. Оптимальный оператор Алгоритм или процедура, принятые E. Optimum operator для практического определения параметров F. optimal или характеристик поверхности с приемлемыми затратами (черт. 2) 12. Реальный оператор Практически реализованный оптимальный E. Real operator оператор. F. Примечание. Реальный оператор отличается от оптимального оператора погрешностью изготовления прибора или изменением характеристик в течение времени (черт. 2) 13. Методическая погрешность Разность между значением параметра поверхности, определенного в соответствии E. Method error с оптимальным оператором и истинным F. Erreur due la значением этого же параметра, определенным в соответствии с идеальным оператором (черт. 2) 14. Методическое расхождение Различия, возникающие в результате применения разных оптимальных операторов E. Method divergence для получения одного и того же значения F. Divergence entre данного параметра (черт. 2) 15. Погрешность прибора Разность между значением параметра поверхности, определенным реальным E. Instrument error оператором и значением этого же параметра, F. Erreur de l'instrument определенным оптимальным оператором (черт. 2) 16. Полная погрешность прибора Разность между значением параметра T поверхности, определенным в соответствии с E. Total instrument error реальным оператором, и истинным значением F. Erreur total d'instrument этого же параметра, определенным в соответствии с идеальным оператором. Примечание. Такая погрешность включает методическую погрешность и погрешность прибора (черт. 2) 17. Основная погрешность Полная погрешность профилометра, профилометра определенная при нормальных условиях, E. Basic error of a profile включающих стандартное входное воздействие meter reading на измерительный преобразователь прибора F. Erreur de base des indications du СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЯ 18. Профильный метод измерения Метод оценки шероховатости поверхности шероховатости поверхности по параметрам ее преобразованных профилей E. Profile method of measurement of the surface roughness F. du profil pour le mesurage de la des surfaces 19. Аппаратура для измерения Приборы, позволяющие определить параметры параметров шероховатости шероховатости поверхности по ее поверхности профильным методом преобразованным профилям E. Instrument for the measurement of surface roughness by the profile method F. Instrument de de la des surfaces par la du profil 20. Контактный прибор Прибор для измерения параметров последовательного преобразования шероховатости поверхности профильным профиля методом с последовательным преобразованием E. Contact instrument информации о профиле при механическом of consecutive profile ощупывании измеряемой поверхности щупом transformation F. Instrument avec contact, transformation du profil 21. Бесконтактный прибор Прибор для измерения параметров последовательного преобразо- шероховатости поверхности профильным вания профиля методом с последовательным преобразованием E. Contactless instrument информации о профиле без механического of consecutive profile взаимодействия с измеряемой поверхностью transformation F. Instrument sans contact, transformation du profil 22. Ощупывающая система прибора Узел прибора последовательного E. Traversing system преобразования профиля, предназначенный of an instrument для первичного преобразования информации F. de palpage d'un об измеряемой поверхности, состоящей из instrument датчика и системы его перемещения относительно измеряемой поверхности 23. Ощупывающая система прибора Ощупывающая система прибора, в которой с зависимой опорой датчик опирается на измеряемую E. Traversing system of an поверхность так, что эта поверхность, instrument with skid-dependent действуя на опору датчика, оказывает datum влияние на траекторию его перемещения F. de palpage avec относительно поверхности patin d'un instrument 24. Ощупывающая система прибора Ощупывающая система прибора, в которой с независимой опорой датчик не опирается на измеряемую E. Traversing system of an поверхность и перемещается независимо, instrument with the external сохраняя ориентацию постоянной, что reference datum достигается путем перемещения датчика F. de palpage avec по внешней базе, так что измеряемая reference independante d'un поверхность не действует на датчик и не instrument оказывает влияния на траекторию его перемещения относительно поверхности 25. Контактный прибор Прибор для измерения параметров одновременного преобразования шероховатости поверхности профильным профиля методом с одновременным преобразованием E. Contact instrument информации о профиле при механическом of instantaneous profile взаимодействии с измеряемой поверхностью transformation F. Instrument avec contact, transformation du profil 26. Бесконтактный прибор Прибор для измерения параметров одновременного преобразования шероховатости поверхности профильным профиля методом с одновременным преобразованием E. Contactless instrument информации о профиле без механического of instantaneous profile взаимодействия с измеряемой поверхностью transformation F. Instrument sans contact, transformation du profil 27. Профилометр Прибор для измерения параметров E. Profile meter шероховатости, показывающий значения F. этих параметров или обеспечивающий их регистрацию 28. Профилометр с постоянной Профилометр, измеряющий параметр длиной трассы ощупывания при шероховатости поверхности на отрезке измерении длины, начало и конец которого E. Profile meter with зафиксированы ограничителями. predetermined traversing length Примечание. Профилометры этого типа F. a longueur обычно показывают и удерживают значение d'exploration constante измеряемого параметра, полученное в конце указанного отрезка длины 29. Профилограф Прибор для регистрации и измерения E. Profile recording instrument координат профиля поверхности в любой F. Enregistreur форме ХАРАКТЕРИСТИКИ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ 30. Вертикальное увеличение Масштаб преобразования координат профиля прибора в направлении перемещения щупа, E. Vertical magnification of a перпендикулярном к
поверхности profile recording instrument F. Grossissement vertical d'un 31. Горизонтальное увеличение Масштаб преобразования координат профиля прибора в направлении перемещения щупа вдоль E. Horizontal magnification of поверхности. a profile recording instrument Примечание. Под масштабом преобразования F. Grossissement horizontal понимают отношение регистрируемой величины d'un к перемещению щупа в соответствующем направлении. Применительно к профилограмме - отношение движения пера или носителя к перемещению щупа в соответствующем направлении 32. Относительная погрешность Разность между действительным и вертикального увеличения номинальным значениями вертикального прибора увеличения прибора, отнесенная к E. Relative error of vertical номинальному значению и выраженная в magnification of an instrument процентах F. Erreur relative du grossissement vertical d'un 33. Относительная погрешность Разность между действительным и горизонтального увеличения номинальным значениями горизонтального прибора увеличения прибора, отнесенная к E. Relative error of horizontal номинальному значению и выраженная magnification of an instrument в
процентах F. Erreur relative du grossissement horizontal d'un 34. Статическое измерительное Усилие воздействия щупа вдоль его оси усилие на контролируемую поверхность, без учета E. Static measuring force динамических составляющих, возникающих F. Effort statique de mesurage в процессе ощупывания 35. Постоянная изменения Изменение на единицу перемещения измерительного усилия статического измерительного усилия, E. Rate of change of the static действующего на
щуп вдоль оси measuring force F. Taux de variation de l'effort statique de mesure 36. Длина трассы ощупывания Полная длина участка поверхности, в E. Traversing length пределах которого расположен профиль F. Longueur d'exploration измеряемой поверхности, ощупанный прибором при измерении (см. черт. 3) Длина трассы ощупывания
A - длина участка предварительного хода датчика; - длина участка измерения; B - длина участка завершающего хода датчика Черт. 3 37. Длина участка измерения Часть длины трассы ощупывания, в пределах E. Measuring length которой находится профиль, параметры F. Longueur de mesure которого подлежат измерению. Примечание. Длина участка измерения равна длине оценки 38. Отсечка шага Длина волны , численно равная базовой E. Cut-off длине l и условно принимаемая в качестве F. Longueur d'onde de coupure верхней границы пропускания профилометра, для которой установлен определенный коэффициент пропускания. Примечания. 1. Для аналоговых электрических фильтров он равен 75%. 2. Указанная верхняя граница условно отделяет номинально пропускаемые от номинально подавляемых компонентов спектра профиля 2. Для каждого понятия установлен один
стандартизованный термин. Применение терминов - синонимов
стандартизованного термина не допускается. 2.1. Приведенные определения можно при
необходимости изменять, вводя в них производные признаки, раскрывая значения
используемых в них терминов, указывая объекты, входящие в объем определяемого
понятия. Изменения не должны нарушать объем и содержание понятий, определенных
в данном стандарте. 2.2. В табл. 1 приведены в качестве
справочных буквенные обозначения к ряду терминов. 2.3. В табл. 1 к термину 36 приведен
чертеж. 2.4. В табл. 1 в качестве справочных
приведены иноязычные эквиваленты стандартизованных терминов на английском (E) и
французском (F) языках. 3. Алфавитные указатели содержащихся в
стандарте терминов на русском языке и их иноязычных эквивалентов приведены в
табл. 2 - 5. АЛФАВИТНЫЙ
УКАЗАТЕЛЬ ТЕРМИНОВ НА РУССКОМ ЯЗЫКЕ Таблица 2 ─────────────────────────────────────────────────────────┬──────── Термин │ Номер │термина ─────────────────────────────────────────────────────────┴──────── Аппаратура для измерения параметров шероховатости 19 поверхности профильным методом Длина трассы ощупывания 36 Длина участка измерения 37 Метод измерения шероховатости поверхности профильный 18 Оператор идеальный 10 Оператор оптимальный 11 Оператор реальный 12 Отсечка шага 38 Погрешность вертикального увеличения прибора 32 относительная Погрешность горизонтального увеличения прибора 33 относительная Погрешность методическая 13 Погрешность прибора 15 Погрешность прибора полная T 16 Погрешность профилометра основная 17 Постоянная изменения измерительного усилия 35 Преобразование профиля 1 Преобразование профиля непреднамеренное 4 Преобразование профиля преднамеренное 3 Прибор одновременного преобразования профиля 26 бесконтактный Прибор одновременного преобразования профиля контактный 25 Прибор последовательного преобразования профиля 21 бесконтактный Прибор последовательного преобразования профиля 20 контактный Профилограф 29 Профилометр 27 Профилометр с постоянной длиной трассы ощупывания 28 при измерении Профиль измеренный 7 Профиль модифицированный 6 Профиль ощупанный 5 Профиль преобразованный 2 Расхождение методическое 14 Система прибора ощупывающая 22 Система прибора с зависимой опорой ощупывающая 23 Система прибора с независимой опорой ощупывающая 24 Увеличение прибора вертикальное 30 Увеличение прибора горизонтальное 31 Усилие измерительное статическое 34 Шаг дискретизации профиля по длине 8 Шаг квантования профиля по уровню 9 АЛФАВИТНЫЙ
УКАЗАТЕЛЬ ТЕРМИНОВ НА АНГЛИЙСКОМ ЯЗЫКЕ Таблица 3 ──────────────────────────────────────────────────────────────────┬──────── Термин │ Номер │термина ──────────────────────────────────────────────────────────────────┼──────── Basic error of a profile meter reading │ 17 Contact instrument of instantaneous
profile transformation │ 25 Contactless instrument of
consecutive profile transformation │ 21 Contactless instrument of
instantaneous profile transformation │ 26 Contact instrument of consecutive
profile transformation │ 20 Cut-off
│ 38 Horizontal magnification of a
profile recording instrument │ 31 Ideal operator
│ 10 Instrument error │ 15 Instrument for the measurement of
surface roughness by the profile│
19 method │ Intentional profile transformation │ 3 Measured profile │ 7 Measuring length │ 37 Method divergence │ 14 Method error │ 13 Modified profile │ 6 Optimum operator │ 11 Profile meter │ 27 Profile meter with predetermined traversing length │ 28 Profile method of measurement of the surface roughness │ 18 Profile quantization step │ 9 Profile recording instrument │ 29 Profile sampling interval │ 8 Profile transformation │ 1 Rate of change of the static measuring force │ 35 Real operator │ 12 Relative error of horizontal magnification of an instrument │ 33 Relative error of vertical magnification of an instrument │ 32 Static measuring force │ 34 Total instrument error │ 16 Traced profile │ 5 Transformed profile │ 2 Traversing length │ 36 Traversing system of an instrument │ 22 Traversing system of an instrument with skid-dependent datum │ 23 Traversing system of an instrument with the external reference │ 24 datum │ Vertical magnification of a profile recording instrument │ 30 Unintentional profile transformation │ 4 АЛФАВИТНЫЙ УКАЗАТЕЛЬ
ТЕРМИНОВ НА ФРАНЦУЗСКОМ ЯЗЫКЕ Таблица 4 ─────────────────────────────────────────────────────────┬──────── Термин │ Номер │термина ─────────────────────────────────────────────────────────┴──────── Divergence entre 14 Effort statique de 34 29 Erreur de base des indications du profilometre 17 Erreur de l'instrument 15 Erreur due la 13 Erreur relative du grossissement horizontal d'un 33 Erreur relative du grossissement vertical d'un 32 Erreur total d'instrument 16 Grossissement horizontal d'un 31 Grossissement vertical d'un 30 Instrument avec contact, transformation 20 du profil Instrument de de la des surfaces 19 par la du profil Instrument avec contact, transformation 25 du profil Instrument sans contact, transformation 21 du profil Instrument sans contact, transformation 26 du profil Longueur de mesure 37 Longueur d'exploration 36 Longueur d'onde de coupure 38 du profil pour le mesurage de la 18 des surfaces ideal 10 optimal 11 12 Pas de du profil 8 Pas de quantification du profil 9 Profil 7 Profil 6
27 longueur d'exploration constante 28 Profil 5 Profil 2 de palpage avec patin d'un instrument 23 de palpage avec reference independante
d'un 24 instrument Systeme de palpage d'un
instrument 22 Taux de variation de l'effort
statique de mesure 35 Transformation du profil 1 Transformation involontaire du
profil 4 Transformation volontaire du profil 3 |
|
© Информационно-справочная онлайн система "Технорма.RU" , 2010. Бесплатный круглосуточный доступ к любым документам системы. При полном или частичном использовании любой информации активная гиперссылка Внимание! Все документы, размещенные на этом сайте, не являются их официальным изданием. |