ГОСТ 18986.7-73

Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда

Обозначение:ГОСТ 18986.7-73
Статус:действующий
Название рус.:Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
Название англ.:Semiconductor diodes. Methods for measuring life time
Дата актуализации текста:27.10.2010
Дата актуализации описания:27.10.2010
Дата введения в действие:01.01.1975
Область и условия применения:Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ.
Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ
Список изменений:№0 от 24.06.1987 (рег. 24.06.1987) «Срок действия продлен»
№1 от 01.02.1983 (рег. 27.08.1982) «Срок действия продлен»


ГОСТ 18986.7-73
ГОСТ 18986.7-73
ГОСТ 18986.7-73
ГОСТ 18986.7-73
ГОСТ 18986.7-73
ГОСТ 18986.7-73

 


 
© Информационно-справочная онлайн система "Технорма.RU" , 2010.
Бесплатный круглосуточный доступ к любым документам системы.

При полном или частичном использовании любой информации активная гиперссылка на Tehnorma.RU обязательна.


Внимание! Все документы, размещенные на этом сайте, не являются их официальным изданием.
 
Яндекс цитирования